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鴻承儀器

深圳市鴻承電子儀器設備有限公司專業經營維修各類進口測量儀器儀表、電工及電子器材,多年來始終秉著以實現客戶滿意為目標堅持為客戶提供優質產品

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Hitachi日立AFM5500M

型號: AFM5500M

--- 產品參數 ---

  • 1

--- 產品詳情 ---

AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高,配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換,激光對中,測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且,通過SEM-AFM共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。

特點

1. 自動化功能

 

高度集成自動化功能追求高效率檢測

 

 

降低檢測中的人為操作誤差

2. 可靠性

排除機械原因造成的誤差

大范圍水平掃描

采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對掃描器圓弧運動所產生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是,用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響,圖片上經常發生扭曲效果。
AFM5500M搭載了最新研發的水平掃描器,可實現不受圓弧運動影響的準確測試。

高精角度測量

普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時候,會發生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會發生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。 

 

3. 融合性

親密融合其他檢測分析方式

通過SEM-AFM的共享坐標樣品臺,可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌,結構,成分,物理特性等。

 

通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

 

 

石墨烯層數不同導致表面電位(功函數)的反差。

 

 

SEM圖像對比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

 

與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。

 

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