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HAC的射頻電場輻射和磁場輻射的方法有哪些

1885779 2020-07-30 | pdf | 0.11 MB | 次下載 | 1積分

資料介紹

　　由于無線通信設備在最高功率狀態下工作時，會對周圍的電子產品產生嚴重的電磁干擾。其中對殘疾人所使用的助聽器所造成的干擾最為嚴重，它將直接影響到到使用者的正常使用。根據這種情況，在ANSI C63.19標準里規定了HAC（hearing aid compatibility）部分的測試要求，其中HAC的射頻電場輻射和射頻磁場輻射是其最重要的組成部分之一。下面我們就簡單介紹一下HAC的射頻電場輻射和射頻磁場輻射的大致方法。 HAC測試中所用到儀器主要有： 1. 近場電場探頭; 2. 近場磁場探頭; 3. 探頭定位裝置; 4. WD（Wireless Devices）的支持系統; 5. RF屏蔽室等其它輔助設備; 測試時需調整無線通信設備（WD-Wireless Devices）工作在最大額定輸出功率狀態下，測試需要在高，中，低信道下進行。同時需確認場強探頭及測試系統和其他設備均處正常工作狀態，探頭位置需做定位校準。 HAC測試是在5cm的區域內進行，使用電場探頭掃面表面測量最大場強，在多個脈沖的周期內，通過峰值測量，然后根據測量平均值和一直的無限通信設備占空比計算可以得到的平均場強。為了精確掃描整個區域，探頭的中心必須處于測試區域內掃描。被測物參考平面到探頭元件最近的點距離是1.0cm。