優(yōu)可測文章

• 微透鏡陣列精準(zhǔn)全檢，優(yōu)可測3D自動量測方案提效70%2025-01-15 17:04

  

  微透鏡陣列可實現(xiàn)許多傳統(tǒng)光學(xué)元器件難以實現(xiàn)的特殊功能，應(yīng)用廣泛。某福州工廠需全檢晶圓MLA產(chǎn)品，引入優(yōu)可測NX230系列晶圓3D自動量測設(shè)備，實現(xiàn)高精度、高效率自動化檢測，單顆透鏡檢測時間縮短至10s，效率提升75%。

  光學(xué)元件 微透鏡 白光干涉儀 174瀏覽量

• 優(yōu)可測一鍵尺寸測量儀：實現(xiàn)MLCC尺寸快速精準(zhǔn)檢測 | 行業(yè)應(yīng)用2024-12-31 17:05

  

  優(yōu)可測一鍵式閃測儀FM-9000系列：隨意放置即可瞬間精確、快速、批量測量，是解決MLCC幾何尺寸測量困擾的優(yōu)選方案，幫助您提升產(chǎn)品良率與產(chǎn)量！

  MLCC 測量儀 252瀏覽量

• 優(yōu)可測一鍵尺寸測量儀：磁芯尺寸測量的優(yōu)選方案 | 行業(yè)應(yīng)用2024-12-17 18:03

  

  為確保生產(chǎn)的變壓器符合各類電性能設(shè)計，需要對磁芯進(jìn)行大量尺寸檢測。優(yōu)可測一鍵測量儀FM9000系列：瞬間即可完成磁芯幾何尺寸測量，進(jìn)行OK/NG判定，提高產(chǎn)品良率。

  尺寸測量 影像測量儀 磁芯 352瀏覽量

• 優(yōu)可測白光干涉儀：助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用2024-11-19 01:03

  

  手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷，再到納米紋理玻璃，不斷革新以滿足消費者需求。其中，影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計、粗糙度等。優(yōu)可測白光干涉儀AM-7000可以精確測量各個工藝參數(shù)，助力廠家提升手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)。

  干涉儀 白光干涉儀 表面粗糙度 表面輪廓儀 330瀏覽量

• 新品發(fā)布 | 優(yōu)可測激光位移傳感器SL-5000系列：超高精度、超快采樣速率、超小光點直徑2024-10-29 08:05

  

  優(yōu)可測激光位移傳感器SL-5000系列新品上市：超高精度、超快采樣速率、超小光點直徑，多種型號傳感器適用于大部分檢測場景。

  傳感器 位移傳感器 激光 366瀏覽量

• 優(yōu)可測在刀片制造工藝的量測應(yīng)用——一鍵尺寸測量儀篇2024-10-13 08:07

  

  刀片作為數(shù)控機(jī)床關(guān)鍵工具，國產(chǎn)刀具正逐步實現(xiàn)進(jìn)口替代。優(yōu)可測FM-9000一鍵尺寸測量儀助力刀片廠家快速批量測量，確保每枚刀片全尺寸檢測，精度高達(dá)0.4微米。

  制造 尺寸測量 影像測量儀 數(shù)控機(jī)床 349瀏覽量

• 優(yōu)可測白光干涉儀：激光陀螺儀提升良率與精度的關(guān)鍵2024-09-28 08:06

  

  激光陀螺儀廣泛應(yīng)用于航空航天、軍事防御、海洋勘探、自動駕駛等領(lǐng)域，其高靈敏度、強(qiáng)抗干擾和可靠性源于精密制造技術(shù)。優(yōu)可測白光干涉儀助力激光陀螺儀鏡片精度提升，提高生產(chǎn)效率和良率。

  激光 白光干涉儀 陀螺儀 663瀏覽量

• 新品上市 | 優(yōu)可測超景深數(shù)碼顯微鏡AH-3000系列：開啟智能顯微系統(tǒng)新時代2024-09-13 08:08

  

  新品上市！優(yōu)可測超景深數(shù)碼顯微鏡AH-3000系列，開啟智能顯微系統(tǒng)新時代！科研級高分辨率高像素相機(jī)，有效像素高達(dá)1200萬！

  工業(yè)顯微鏡 顯微鏡 檢測 電子顯微鏡 383瀏覽量

• 優(yōu)可測一鍵式影像測量儀：實現(xiàn)沖壓端子的快速精準(zhǔn)尺寸檢測 | 行業(yè)應(yīng)用2024-09-05 08:07

  

  本篇將為大家介紹沖壓端子尺寸精度的重要性、影響因素以及快速準(zhǔn)確檢測方法，幫助沖壓端子廠商降低成本、提高良率、縮短交期。

  尺寸測量 影像測量儀 檢測 418瀏覽量

• 優(yōu)可測白光干涉儀助力紅外探測行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測2024-08-30 17:38

  

  晶圓襯底的質(zhì)量對紅外探測器芯片性能至關(guān)重要，優(yōu)可測白光干涉儀可以高精度測量晶圓襯底的亞納米級粗糙度、納米級臺階、整體平面度、微觀三維形貌等。

  平面度檢測 晶圓 白光干涉儀 紅外線傳感 表面粗糙度 736瀏覽量